井田 隆／研究／紹介
粉末回折測定における粒子統計の効果
粉末Ｘ線回折測定の際に問題になる粒子統計の効果について紹介します。
背景
粒子統計効果研究の歴史
試料の粉砕と分級
理論
畳み込みとしての粉末回折強度
畳み込み：サイコロの目の和
キュムラント
畳み込みのキュムラントの加成性
線焦点
粒子統計を考慮した結晶構造解析法
広く使われてきた Rietveld 法には，粒子統計効果を正しく考慮する事ができないという本質的な問題がありました。
この問題を解決した新しい構造解析法 (Ida-Izumi 法) が開発されました。
BaSO4 の構造解析
La0.03Sr0.97MnO3 の構造
2012年1月5日修正