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名古屋工業大学 セラミックス基盤工学研究センターで，粉末Ｘ線回折によって物質の微視的な構造を評価するための新しい方法を開発しています。
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参考になるかもしれない他の人の研究の内容を紹介します。
「科学捜査における粉末Ｘ線回折の応用事例」 (Kugler, 2003)［→ PDF, 277 kB］
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2012年6月15日