Table 3
Si 粉末 (NIST SRM640c) のスピナー走査測定の結果。
I は平均強度, (ΔIobs)2 は観測された統計分散, (ΔIparticle)2 は粒子統計に帰属される統計分散, neff は有効回折粒子数, Deff は回折計の幾何学的パラメータについて仮定した値から計算された有効直径, Deff は較正を施して得られた有効直径である。
hkl 2θ (°) I (ΔIobs )2 (ΔIparticle )2 neff Deff
(μm)
Deff
(μm)
11128.592304(3)3440(260) 1140(260)4670(1100)4.1(3)5.0(4)
22047.442579(3)4890(340) 2310(340)2900(440)4.6(2)5.2(3)
31156.263266(4)7140(470) 3880(470)2750(340)5.6(2)6.1(3)
40069.241211(3)2720(180) 1510(180)970(120)4.7(2)5.0(2)
33176.484157(5)9680(690) 5520(690)3130(400)4.9(2)5.2(2)
42288.124532(5)10770(760) 6240(760)3290(410)4.7(2)5.0(2)
333/51195.055028(6)12310(840) 7290(840)3470(410)4.9(2)5.4(2)
440106.792344(4)5930(400) 3590(400)1530(180)4.5(2)5.2(2)
531114.169705(8)25800(2000) 16100(2000)5860(740)4.6(2)5.4(2)
620127.605385(6)13510(960) 8100(960)3570(430)4.2(2)5.4(2)
533136.926821(6)16200(1100) 9400(1100)4950(600)3.7(2)5.2(2)

⇐ 計数統計による分散はカウント数と等しく, (ΔIcount )2 ≈ 〈 I という関係が成立することに注意してください。 計数統計誤差 ΔIcount と粒子統計誤差 ΔIparticle は,ほぼ同程度の値であり, リートベルト解析で計数統計誤差しか考慮しないことは不当であることがわかります。

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