［受講申込（締切：平成25年10月25日） ］
※締め切り後も受け付ける場合もありますので、お問い合わせ下さい。
【概 要】
物質の性質は、どのような元素がどのように配列しているかで決まるので、それを実験的に決定する構造評価は材料分野で最も
重要な評価技術です。構造評価技術の中でX線回折実験は長い歴史を持ち、基幹的な技術として産業的にも利用されてきました。
先端的な計測技術を産業に応用することを目的として設立された中部シンクロトロン光施設でも迅速で信頼性の高いX線回折実験
を行うことができる設備が設置されます。
本講座ではX線回折による先端的な構造評価・設計研究を行っている講師が、どこまで詳しくどこまで正確に物質の構造がわかる
ようになっているか、どのような課題が残されているかについて紹介します。
【日 時】 平成 25 年 11 月 1 日（金）
【実施場所】 先進セラミックス研究センター クリスタルプラザ（駅前地区）講義室
【募集人数】 30 名
【講習料】 無料
【講義名、講師】 『X線結晶構造解析の実際』 講師： 石澤 伸夫
『粉末X線構造評価の実際』 講師： 井田 隆