ここでは，粉末Ｘ線回折法の利用を始める初心者に手引きのようなものを提供することを意図しています。
粉末Ｘ線回折法は化学分析を主な目的として利用されます。
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粉末Ｘ線回折法は多用途ですが，「物質の同定と定性分析」が最も重要な用途です。
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測定システムの構成例を示します。
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粉末Ｘ線回折装置ではどのようにＸ線を発生しているのでしょうか？
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装置の光学部品とその構成，仕組みを知ることは重要です。
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ゴニオメーターと呼ばれる機構の機械精度が，粉末Ｘ線回折測定の精度を決定づけると言っても良いでしょう。
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粉末Ｘ線回折装置では，Ｘ線がどのように検出されているでしょうか？
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比較的長い間使われてきたシンチレーション検出器について説明します。
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最近良く使われるようになったシリコン・ストリップ検出器について説明します。
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設置場所を選べるのなら北向きの１階の部屋が良いでしょう。
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Ｘ線を発生するための管球の選択・交換・保守について。
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測定条件はどのように設定すれば良いのでしょうか？
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粉末Ｘ線回折測定のための標準試料について。
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標準試料を使うとして，外部標準法と内部標準法はどう違うのでしょうか？
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粉末Ｘ線回折測定の結果の良し悪しは，試料によって決まります。
試料を粉砕することは重要です。
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試料ホルダーに粉を詰める時に，知っておいた方が良いこと。
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粉末Ｘ線回折測定の最も重要な用途は「同定・定性分析」です。 粉末Ｘ線回折測定による「定量分析」は，元素分析と区別をするために「定量相組成分析」と呼ばれる場合があります。
同定・定性分析は粉末Ｘ線回折測定の最も重要な用途です。
定量相組成分析 (QPA) と Vegard 則による組成分析について。内部標準法，非晶質の定量，微小減衰効果
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装置が回折ピーク形状を変形させる要因として最も目立つのは，Ｘ線の分光強度分布の影響でしょう。
粉末Ｘ線回折測定に用いられる装置の「収差」について説明します。
Ｘ線のビームが赤道面内に発散（広がり）を持つことによる収差です。
Ｘ線の検出のために主に０次元検出器が使われていた頃は平板試料収差と呼ばれていました。
主に一次元検出器が使われるようになり，少し複雑になったかもしれません。
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Ｘ線が試料に有限の深さまで侵入することに由来する収差で，純粋な装置収差というわけではありません。 それだけにユーザーにも注意が必要でしょう。
Ｘ線のビームが軸方向へ発散（広がり）を持つことによる収差です。
粉末Ｘ線回折測定に用いられる装置の「収差」について説明します。
試料面の位置が上下にずれたときには，観測されるピークがシフトする効果が現れます。
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2020年2月18日